DENEY ARAÇLARI

deney araçları

Günümüzde deney araçlarında görülen geli şim, tümleşik devre teknolojisi, sayısal göstergeler, hızlı katot ışınlı tüpler ve minibilgisayar alanlarındaki büyük geli şimlere dayanmaktadır. 1973 yılında hesaplama ve yanlış bulma a 1anındaki ilerlemeler giderek daha zor so runların ekonomik çözümünü olanaklı kıldı. Minibilgisayarların tüm bir ünite veya da ha büyük bir dizge içinde, bir eleman ola rak yer almaları sonucunda ölçü araçlarının hesaplama gücü çok arttı. Örneğin, Intel Corp. tarafından 1972 yılında piyasaya sü rülen yonga halindeki temel hesaplayıcı MOY teknolojisindeki temel gelişimin düze yini gösterir. Ticari ve endüstriyel maki nelerdeki tümleşik olmayan denetleyicile rin yerlerini mikrobilgisayarlara bırakma sı genel amaçlı bilgisayar uygulamasında en önde görünen değişim oldu. Örneğin günü müzde bir mikrobilgisayar 100 tranzistorlu bir TTM devresinden % 20 50 daha ucuza malolmaktadır.

Bellek fiyatlarının düşmesi de giderek da ha çok araç yapımcısının bellekleri tasa rımlarına yerleştirmelerine neden oldu. Ge çici (transient) —tek olay— kaydediciler buna iyi bir örnektir. Kaydediciler olay ları sayısal olarak sakladıkları ve gös terdikleri için tüm olarak bilgi alma ve denetleme aracı sayılırlar ve yalnızca di ğer kayıt araçlarına oranla değil, alışıla gelmiş örneksel/sayısal çeviricilere oran la da çok hızlıdırlar. İm (signal) kayde dici ve çözümleyicilerde de bellek kulla nılmaya başlandı. 1973'de piyasaya sürülen Nicolet Instrument'm Model 1090 sayısal bellekli osiloskopu imin ortasında ateşle nebilen ve dalga şeklinin genişletilebil diği ilk osiloskop. Temel olarak 1090 bir katot ışınlı tüp ve seçici olay kaydedici sinden oluşmakta.

Elektronik araç yapımcılarının verilerine göre elektronik deney araçları alımına har canan tüm paranın üçte biri osiloskop ve tayf çözümleyicilerine ayrılmakta. Hewlett Packard Model 184'ün 400 cm/us 'lik yazma hızı, Tektronix'in 500 MHz'lik bant geniş liği bu alandaki gelişimi göstermektedir.

tik olarak 1963'de piyasaya sürülen tayf çözümleyiciler de önemli gelişimler gös terdiler ve yapı olarak basitleştiler. Alçak frekans yönünde önemli bir adım Hewlett Packard'ın 5 Hz 50 kHz alanında çalışan sayısal bellekli 3580A modeli oldu. Tektro nix 7L13, 0 1,8 GHz alanında 128 dBm du yarlıklı bir çözümleyici olarak piyasaya sürüldü. Mikrodalga tayf çözümleyicileri nin çalışma alanı ise 40 GHz'e kadar ulaş tı.

1973'de mikrodalga alanında Josephson ek lemlerinin kullanılması ile yüksek frekans larda zayıflama ölçmeleri üzerine çalışma lar ilerledi.

1973'de tümleşik ve tümleşik olmayan karma (hybrid) devrelerin yeni uygulamaları küçük araçların yüksek frekans alanında yer alma sına yol açtı. Örneğin mikrodalga güçöl çerlerin 30 MHz 18 GHz arasında dizgeye kattığı gerilim duran dalga oranı 1,3'ün altına indi. Sayısal çokluölçerlerin (mul timeter) ağırlıklarının —piller dahil— 200 gr'a inmesi de karma devrelerdeki geli şimlerin sonucunda sağlandı.

Sayısal Dizgeler

Örneksel göstergeler tamamen ortadan kalk madıysa da çokluölçerlerin pano göstergele rinin ve bunların denetim devrelerinin sa yısal olması son yıllarda görülen çok yay gın bir eğilim. Yeni örneksel/sayısal çev rim teknikleri yalnızca fiyatın azalmasına değil, aynı zamanda doğruluğun da artma sına yol açtı. 7 basamaklı sayılarda ya nılma payının * % 0,001'e inmesi, portatif ölçü aletlerinde bile * % 0,01'lik yanılma payı sağlanabilmesi bu alandaki gelişimi gösterir. 1973'de DA/AA gerilim, akım ve direnç ölçmeleri yapan 5j ondalıklı sayı sal çokluölçerlerin fiyatı 11 250 TL'na kadar indi. İzole çıkış, dışardan program lanabilme ve oran bulma gibi bazı hesapla malar yapma günümüz sayısal çokluölçerleri nin önde gelen özelliklerindendir.

Elektrik Mühendisliği 212 446

Hesaplayıcı deney dizgeleri; minibilgisa yar işlem olanaklarını, bir laboratuvar o siloskopunun im alma olanakları,çok izli yükselteçler tayf çözümleyiciler sayıcıla rın olanakları ile birleştiren aletlerdir. Böylece sayısal hale dönüştürülmüş, belleğe yerleştirilmiş bir ime, düğmeye basılarak çeşitli çözümleme işlemleri uygulanabil mektedir.

Işıkyayaıi diyotların (light emitting diode LED) sayısal göstergelerde büyük bir yer almasına karşın düzlemsel Nixie tüplerinin yarım ondalıkları da önemli satış olanak ları gösteriyor. Çokluölçer, sayıcı ye ö zellikle hesaplayıcı göstergelerinde ışık. yayan diyotlar önde geliyordu. Hız, görünüş gibi nedenlerle sayısal saat yapımcıları sıvı kristalli uygulamalara yer verdiler. Yüksek aydınlatma gerektiren uygulamalarda filamanlı göstergeler yerlerini koruyor lar.

özdevimsel Deneme

Tümleşik devre teknolojisindeki dizge kar maşıklığı yapıma, ve kullanıcı için eleman ve dizge denemesinin önemini büyük ölçüde artırdı. Minibilgisayar denetiminde ger çekleştirilen eleman ve dizge deneylerinde ölçüm ve karar sayısı çok arttı.

Etki tepke mantık çözümleme dizgesi (logic analysis stimulus and response, LASAR) Di gitest tarafından geliştirildi ve sayısal deney programlarının uygulanmasında kulla

nılmaya başlandı. Örneksel dizgelerin de nenmesinde bilgisayar yardımlı deney alet leri kullanımı sayısalların gerisinde ol makla birlikte bu alanda da önemli çabalar harcanmaktadır.

Yeryüzü île îlişki

Yeryüzü parametrelerini —okyanus derinlik lerinde, uzayda, süreç denetimde, trafik sinyalizasyonunda— ölçen her aletin ge rekli dayanıklılığa sahip duyargaları olma lıdır. Görünür ışınlar ve ses bu alanda geniş ölçüde kullanılmakla birlikte, günü müzde kırmızıötesi ışın , X ışını, mikro dalga duyargaları önem kazanmaktadır.

Yakın zamana kadar endüstri alanında kırmızı, ötesi ışınların yayılımı basit birtakım uygulamalarda kullanılırdı. Günümüzde ise bu ışınları taşıyan lif optiği ile başka yöntemlerle ulaşılamayan hedeflere yönelti len duyargalar endüstride, örneğin endük siyonla metal ısıtma, plastik içinde poli mer eritme, yongaların özdevimsel bağlan masında, galvanizlemede, kristal büyütme fırınlarında kullanılmakta.

Henüz çocukluk döneminde olmakla birlikte ilerde önemli gelişimlere yol açacağı umu lan bir teknik, çok katlı baskılı devrele rin denenmesinde kullanılmaktadır. Isı bir laser ışını ile gereken noktada yoğunlaş tırılıp, kırmızı ötesi tarama ile ısının yayılımı denetlenmekte, sonuç olarak ke siklikler, kopukluklar ortaya çıkarılmakta dır.

Şekil 1.

Bir krank milinin endüksiyonla sert leştirilmesi süre cinin denetiminde kırmızıötesi sezi çilerin kullanıl ması yeni geliş tirilen bir yöntem dir.

kırmızı ötesi sezici

Elektrik Mühendisliği 212