Elektronik, haberleşme ve bilişim

Elektronik ve yarı iletkenler

Elektronik devreler ve devre elemanları (transistör, memristör, sensörler), yarı iletkenler, optoelektronik, sayısal devreler, mikroişlemciler, sinyal işleme, elektronik ölçü aletleri.

640yazı
1956–2026 4 yayında
  1. TAEAGE ENSTÜTÜSÜNDEKİ BÜYÜK ÇAPTA TÜMLEŞİK DEVRE ÇALIŞMALARI

    Doç. Dr. Murat Aşkar

    TÜBİTAK Ankara Elektronik Araştırma ve Geliştirme Enstitüsü'nde NATO desteğiyle kurulan Çok Büyük Çapta Tümleşik Devre (ÇBÇT/VLSI) tasarım merkezinin amaçları, tasarım aşamaları ve ASELSAN için gerçekleştirilen ilk yonga projesi tanıtılmaktadır.

    Teknik / bilimsel makale Elektrik Mühendisliği · Sayı 366-367 · Nisan-Mayıs 1989

  2. KUANTUM ETKİSİ AYGITI:YARININ TRANSİSTÖRÜMÜ

    Robert T. Bate

    Yazı, alışılmış tümleşik devre elemanlarının küçültülmesindeki fiziksel sınırları ele alarak, kuantum mekaniksel etkilere dayanan yeni tür yarı iletken aygıtların (kuantum etkisi aygıtları) geleneksel alan etkisi transistörlerine (FET) alternatif olabileceğini tartışmaktadır. Galyum arsenit ve alüminyum galyum arsenit tabakalarından oluşan bu aygıtlarda tünelleme, büyüklük kuantizasyonu ve rezonans gibi kuantum olaylarının nasıl çalıştığı açıklanmaktadır.

    Teknik / bilimsel makale Elektrik Mühendisliği · Sayı 357 · Temmuz 1988

  3. LSI/VLSI YONGALARININ BİLGİSAYAR DESTEKLİ TASARIMI

    Kazım Erbay

    Yazı, LSI/VLSI tümleşik devre yongalarının tasarım sürecinde kullanılan bilgisayar destekli tasarım (CAD) yöntemlerini; sistem tanımlama, mantıksal tasarım, elektronik devre benzeşimi, bölümlendirme, dağılım ve yerleştirme aşamalarını ele almaktadır. Ayrıca dönemin CAD programları (SPICE, MOTIS, ASTAP vb.) ve bu programların sınıflandırılması ile karşılaşılan sorunlar özetlenmektedir.

    Teknik / bilimsel makale Elektrik Mühendisliği · Sayı 344 · Haziran 1987

  4. TÜMLEŞİK DEVRELERİN SINAMA YÖNTEMLERİ

    Yazı, VLSI ve LSI tümleşik devrelerin sınanmasında karşılaşılan sorunları, otomatik sınama üretimi (ATG) ve hata benzetimi yöntemlerini, yapısal ve esnek tasarım yaklaşımlarını ve SCOAP sınanabilirlik ölçüm aracını teknik olarak ele almaktadır.

    Teknik / bilimsel makale Elektrik Mühendisliği · Sayı 299 · 1983 / 7